日本Otsuka大塚ZETA电位测试系统ELSZneo-成都藤田科技提供
MINUK可评价nｍ级的透明的异物・缺陷，一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息，可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦，可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。

特点

● 可对应从稀薄到浓厚溶液（~40%）宽浓度范围的粒径和ZETA电位测量

● 通过多角度测定，可测量分辨率更高的粒径分布

● 可以在高盐浓度下测量平板样品的ZETA电位

● 通过静态光散射法可测量粒子的浓度

● 能过动态光散射法可测量微流变学

● 通过测量凝胶样品在多个点的散射强度和扩散系数，可以分析凝胶的网络结构和不均匀性。

● 可以在0 ~ 90℃的宽温度范围内进行测量

● 通过温度梯度功能，可对蛋白质等的变性及相变温度进行解析

● 通过样品池内的实测电气浸透流图分析，提供高精度的ZETA电位测量结果,

● 可安装荧光滤光器(选配)

用途

非常适用于界面化学、无机物质、半导体、聚合物、生物学、制药和医学领域的基础研究和应用研究，不仅涉及微小颗粒，还涉及薄膜和平板表面的科学研究。

● 新型功能材料领域

- 燃料电池相关（碳纳米管、富勒烯、功能膜、催化剂、纳米金属）

- 纳米生物相关（纳米胶囊、树枝状聚合物、DDS、纳米生物粒子）、纳米气泡等

● 陶瓷/着色材料工业领域

- 陶瓷（二氧化硅/氧化铝/氧化钛等）

- 无机溶胶的表面改性/分散/聚集控制

- 颜料的分散/聚集控制（炭黑/有机颜料）

- 浆料状样品

- 滤光器

- 浮游选定矿物的捕集材料的收集和研究

● 半导体领域

- 异物附着在硅晶片表面的原理解析

- 研磨剂和添加剂与晶片表面的相互作用的研究

- CMP浆料的相互作用

● 聚合物/化工领域

- 乳液（涂料/粘合剂）的分散/聚集控制，乳胶的表面改性（医药/工业）

- 聚电解质（聚苯乙烯磺酸盐，聚羧酸等）的功能研究

- 功能纳米颗粒纸/纸浆造纸过程控制和纸浆添加剂研究

● 制药/食品工业领域 　

- 乳液（食品/香料/医疗/化妆品）分散/聚集控制及蛋白质的机能性检测

- 脂质体/囊泡分散/聚集控制及表面活性剂（胶束）机能性检测

原理

粒径测量原理：动态光散射法（光子相关法）

由于溶液中的粒子根据粒子的大小在做布朗运动，粒子受到光照射时会得到的散射光。小粒子呈现快速波动，大粒子呈现缓慢波动。
通过光子相关法分析这种波动，就可以求得粒度和粒度分布。