Otsuka大塚 分光测量（在线式）扫描膜厚仪-成都藤田科技提供 采用线扫描方式检测整面薄膜 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援 实现高精度测量实现高速测量 不受偏差影响 可对应宽幅样...

日本Otsuka大塚GP series分光配光测量系统-成都藤田科技提供 特点： 采用具有高亮度和色度精度的光谱方法（衍射光栅）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可测量， 对应CIE推荐的宽波长范围（355 nm至835 nm） 光学系统降低了...

Otsuka大塚PET膜厚（在线式）扫描膜厚仪-成都藤田科技提供 采用线扫描方式检测整面薄膜 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援 实现高精度测量实现高速测量 不受偏差影响 可对应宽幅样...

Otsuka大塚全长测量（在线式）扫描膜厚仪-成都藤田科技提供 采用线扫描方式检测整面薄膜 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援 实现高精度测量实现高速测量 不受偏差影响 可对应宽幅样...

Otsuka大塚覆膜专用（在线式）扫描膜厚仪-成都藤田科技提供 采用线扫描方式检测整面薄膜 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援 实现高精度测量实现高速测量 不受偏差影响 可对应宽幅样...

Otsuka大塚薄膜宽幅扫描膜厚仪（在线式）-成都藤田科技提供 采用线扫描方式检测整面薄膜 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援 实现高精度测量实现高速测量 不受偏差影响 可对应宽幅样...