日本Otsuka大塚GP series分光配光测量系统-成都藤田科技提供 特点： 采用具有高亮度和色度精度的光谱方法（衍射光栅）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可测量， 对应CIE推荐的宽波长范围（355 nm至835 nm） 光学系统降低了...

MCPD-6800 大塚光谱仪高精度光谱测量设备 根据用途的各种检测器的阵容 以最档次的机型MCPD-9800为首，拥有两个系列，共达9个波长范围的检测器型号。 可配合客户的需求与测量用途，选择最的检测器。 测量项目与所对应的检测器

OTSUKA 光谱仪 MCPD-9800 半导体检测设备 根据用途的各种检测器的阵容 以最档次的机型MCPD-9800为首，拥有两个系列，共达9个波长范围的检测器型号。 可配合客户的需求与测量用途，选择最合的检测器。 测量项目与所对应的检测器

日本OTSUKA大塚膜厚量测仪 支持从薄膜到厚膜的各种薄膜厚度 使用反射光谱分析薄膜厚度 实现非接触、非破坏的高精度测量，同时体积小、价格低 简单的条件设置和测量操作！任何人都可以轻松测量薄膜厚度 通过峰谷法、频率分析法、非线性最小二乘法、优化法等，可以进行多种膜厚测量。 非线性最小二乘法薄膜厚度分析算法可以进行光学常数分析（n：折射率，k：消光计数）。

显微分光膜厚仪 OPTM series 非接触、非破坏式，量测头可自由集成在客户系统内 初学者也能轻松解析建模的初学者解析模式 高精度、高再现性量测紫外到近红外波段内的绝对反射率，可分析多层薄膜厚度、光学常数（n：折射率、k：消光系数） 单点对焦加量测在1秒内完成 显微分光下广范围的光学系统（紫外 ~ 近红外） 独立测试头对应各种inline定制化需求 最小对应

日本OTSUKA大塚Smart膜厚仪 可携带至现场的手持式 可测量0.1μm单位 具有形状的样品也可非破坏的测量 不论基材材质、可测量其镀膜