日本Otsuka大塚FE-3700高精度膜厚测量系统-成都藤田科技提供 产品信息 特殊长度 可以高速、高精度地测量各种玻璃基板上各种薄膜的膜厚和光学常数。 除了支持包括下一代尺寸在内的大型玻璃基板外，它还支持 LCD、TFT 和有机 EL。 用法 LCD ITO...

日本Otsuka大塚GS-300oad Port膜厚测量系统-成都藤田科技提供 产品信息 特点 支持集成到 Φ300mm EFEM 单元的备用端口 实现嵌入在晶片中的布线图案的图案对齐 支持半导体工艺的高吞吐量要求 支持槽口对齐功能 小尺寸规格 高精度自动校准单元 自动...

日本Otsuka大塚OPTM series嵌入分光膜厚仪成都藤田科技提供 用显微微分光膜厚计OPTM series的高精度、微小光点，在线提供制作晶片图案后的微小区域测量等膜厚信息。...

日本Otsuka大塚RE-200高速相位差测量装置-成都藤田科技提供 产品信息 特 点 可测从0nm开始的低（残留）相位差 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.) （相当于世界快速的0.1秒以下来处理） 无驱动部，重复再现性高 设置的测量项目少，测量简单...

日本Otsuka大塚PP-1000薄膜小角激光散射仪-成都藤田科技提供 PP-1000小角激光散射仪，利用小角激光散射法（Small Angle Laser Scattering，简称SALS），可以对高分子材料和薄膜进行原位检测，实时解析。与SAXS和SANS的装置相比，检测范围更广。利用偏光Hv散射测量可以进行光学各向异性的评价，解析结晶性薄膜的球晶半径，偏光Vv散射测量可以进行聚合物混合的相

日本Otsuka大塚FE-5000椭偏仪可在紫外波长-成都藤田科技提供 采用线扫描方式检测整面薄膜 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援 实现高精度测量实现高速测量 不受偏差影响 可对应宽幅样...