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产品中心日本大塚Otsuka膜厚测试仪日本Otsuka大塚 粒径测试系统·ELSZneoSE
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更新时间：2025-04-23
厂商性质：代理商
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产品分类
“便携式手持型"重量仅为 1.1 公斤，易于携带
“高精度测量和简单测量" 无需校准曲线即可测量低至 0.1 μm 的测量
“兼容多层薄膜" 最多可测量 3 层多层薄膜
“无损、非接触式测量"测量，不损坏样品
“测量各种样品" 无论基材（玻璃或塑料）如何，都可以进行测量
| 项目 | 专业版 | 标准 |
| 型 | SM-100P 系列 | SM-100S 系列 |
| 测量方法 | 反射光谱法（光学干涉法） | |
| 测量薄膜厚度范围*1 | 0.1~100μm（单层） 1~100μm（多层） | 1~50μm （单层） |
| 多层支持 | 最多 3 层 | 1 层 |
| 测量可重复性 | 2.1σ 0.01μm （氧化硅膜 1μm） | |
| 测量光斑直径 | Φ1mm 以下 | |
| 测量时间 | 小于 1 秒 | |
| 数据输出格式 | 以文本格式导出到 U 盘 | |
| 体型 | 约 138 （W） × 198 （D） × 61 （H） 毫米 | |
| 重量 | 约 1.1 千克 | |
| 行驶时间 | 4 小时或更长时间（测量） | |
| 电源电压/电源 | AC100-240V/35VA （交流适配器输入） | |
| 防护等级 | IP30/IK06 防护等级 | |
*1 样品折射率为 1.6 时
日本Otsuka大塚 粒径测试系统·ELSZneoSE-成都藤田科技提供
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