日本Otsuka大塚 粒径测试系统·ELSZneoSE-成都藤田科技提供 “便携式手持型”重量仅为 1.1 公斤，易于携带 “高精度测量和简单测量” 无需校准曲线即可测量低至 0.1 μm 的测量 “兼容多层薄膜” 最多可测量 3 层多层薄膜 “无损、非接触式测量”测量，不损坏样品 “测量各种样品” 无论基材（玻璃或塑料）如何，都可以进行测量

日本Otsuka大塚电子SM-100智能涂层测厚仪-成都藤田科技提供 “便携式手持型”重量仅为 1.1 公斤，易于携带 “高精度测量和简单测量” 无需校准曲线即可测量低至 0.1 μm 的测量 “兼容多层薄膜” 最多可测量 3 层多层薄膜 “无损、非接触式测量”测量，不损坏样品 “测量各种样品” 无论基材（玻璃或塑料）如何，都可以进行测量

日本Otsuka大塚OPTM series嵌入分光膜厚仪成都藤田科技提供 用显微微分光膜厚计OPTM series的高精度、微小光点，在线提供制作晶片图案后的微小区域测量等膜厚信息。...

日本Otsuka大塚 薄膜离线型扫描膜厚仪-成都藤田科技提供$n采用线扫描方式检测整面薄膜 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援 实现高精度测量实现高速测量 不受偏差影响 可对应宽幅样...

日本Otsuka大塚FE-300光谱分析膜厚量测仪-成都藤田科技提供 产品信息 特 长 薄膜到厚膜的测量范围、UV~NIR光谱分析 高性能的低价光学薄膜量测仪 藉由反射率光谱分析膜厚 完整继承FE-3000机种90%的强大功能 无复杂设定，操作简单，短時...

日本Otsuka大塚ZETA分子量ELSZ-2000ZS测仪-成都藤田科技提供 产品信息 特 点 采用了偏光光学系和多通道分光检出器 有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板 安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备 测量项目...