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日本大塚Otsuka
膜厚测试仪
SM-110PO日本OTSUKA大塚Smart膜厚仪




产品型号:SM-110PO
更新时间:2026-06-30
厂商性质:代理商
访问量:57
服务热线19938139269(马经理)
产品分类
虽为手持设备却可实现高精度测量
支持对三维样品进行无损检测
测量原理
Smart膜厚仪采用反射分光法(光学干涉法)测量薄膜厚度。例如,在测量基底上的镀膜时,从样品上方入射的光会在薄膜表面发生反射(图中R1)。而穿透薄膜的光会在基底与薄膜的界面处发生反射(图中R2).通过测量由光程差异引起的相位偏移(相位差)所产生的光学干涉现象,可根据测得的反射光谱与折射率计算出薄膜厚度。

Smart手持式膜厚仪与其他膜厚仪的比较
与桌上型光学膜厚仪相比,Smart膜厚仪在“现场"以非破坏式直接量测样品,且可以量测特殊形状样品。

与接触式膜厚仪相比,Smart膜厚仪不仅不会破坏您的样品,也不会因用户不同而产生误差且远高于接触式膜厚的量测精度。

与涡电流/电磁式膜厚仪相比,Smart膜厚仪不需要制作检量线,且可以量测非金属基材并且得到绝对值!

不需要量测经验,可快速得到精准的膜厚结果。

产品规格

使用场景
产品开发-量测试作品
1.携带到合作厂商等,直接在现场量测效率Up
2.试作阶段的检查方法商定效率Up
产线-设定产线参数、提高良率
1.现场可直接量测,无须准备,量测时间短、效率Up
2.产品检查的早期阶段发现问题,事后的对策更加灵活
质量管理-品管效率Up
1.现场可直接量测高精度量测成品,尽早发现不良品异状
2.事后的对策可更加灵活
After Service-活用可携带的优点
在产品出货后的客户端也可直接带去量测。
现场较难量测的立体物、无法切割破坏的样品(例如:窗户的Coating等)。
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