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当前位置:首页产品中心日本大塚Otsuka膜厚测试仪SM-110PO日本OTSUKA大塚Smart膜厚仪

日本OTSUKA大塚Smart膜厚仪
产品简介:

日本OTSUKA大塚Smart膜厚仪
可携带至现场的手持式
可测量0.1μm单位
具有形状的样品也可非破坏的测量
不论基材材质、可测量其镀膜

产品型号:SM-110PO

更新时间:2026-06-30

厂商性质:代理商

访问量:57

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产品介绍

日本OTSUKA大塚Smart膜厚仪成都藤田供应

智能膜厚测量仪具备以下特点,为您解决所有烦恼:
可随身携带至生产现场的手持式设计
可测量0.1μm单位
操作简便,新人也能轻松上手

虽为手持设备却可实现高精度测量

支持对三维样品进行无损检测

测量原理

Smart膜厚仪采用反射分光法(光学干涉法)测量薄膜厚度。例如,在测量基底上的镀膜时,从样品上方入射的光会在薄膜表面发生反射(图中R1)。而穿透薄膜的光会在基底与薄膜的界面处发生反射(图中R2).通过测量由光程差异引起的相位偏移(相位差)所产生的光学干涉现象,可根据测得的反射光谱与折射率计算出薄膜厚度。


日本OTSUKA大塚Smart膜厚仪

Smart手持式膜厚仪与其他膜厚仪的比较

与桌上型光学膜厚仪相比,Smart膜厚仪在“现场"以非破坏式直接量测样品,且可以量测特殊形状样品。

日本OTSUKA大塚Smart膜厚仪



与接触式膜厚仪相比,Smart膜厚仪不仅不会破坏您的样品,也不会因用户不同而产生误差且远高于接触式膜厚的量测精度。

日本OTSUKA大塚Smart膜厚仪

与涡电流/电磁式膜厚仪相比,Smart膜厚仪不需要制作检量线,且可以量测非金属基材并且得到绝对值!

日本OTSUKA大塚Smart膜厚仪

不需要量测经验,可快速得到精准的膜厚结果。

日本OTSUKA大塚Smart膜厚仪

产品规格

日本OTSUKA大塚Smart膜厚仪

使用场景

产品开发-量测试作品

1.携带到合作厂商等,直接在现场量测效率Up

2.试作阶段的检查方法商定效率Up

产线-设定产线参数、提高良率

1.现场可直接量测,无须准备,量测时间短、效率Up

2.产品检查的早期阶段发现问题,事后的对策更加灵活

质量管理-品管效率Up

1.现场可直接量测高精度量测成品,尽早发现不良品异状

2.事后的对策可更加灵活

After Service-活用可携带的优点

在产品出货后的客户端也可直接带去量测。

现场较难量测的立体物、无法切割破坏的样品(例如:窗户的Coating等)。


日本OTSUKA大塚Smart膜厚仪成都藤田供应



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