日本Otsuka大塚 粒径测试系统·ELSZneoSE-成都藤田科技提供 “便携式手持型”重量仅为 1.1 公斤，易于携带 “高精度测量和简单测量” 无需校准曲线即可测量低至 0.1 μm 的测量 “兼容多层薄膜” 最多可测量 3 层多层薄膜 “无损、非接触式测量”测量，不损坏样品 “测量各种样品” 无论基材（玻璃或塑料）如何，都可以进行测量

日本Otsuka大塚电子SM-100智能涂层测厚仪-成都藤田科技提供 “便携式手持型”重量仅为 1.1 公斤，易于携带 “高精度测量和简单测量” 无需校准曲线即可测量低至 0.1 μm 的测量 “兼容多层薄膜” 最多可测量 3 层多层薄膜 “无损、非接触式测量”测量，不损坏样品 “测量各种样品” 无论基材（玻璃或塑料）如何，都可以进行测量

日本Otsuka大塚电子QE-2100量子测量系统-成都藤田科技提供 产品信息 特点 可处理高达2400mm的直管光学总光通量测量 测量系统符合IESNA的LM-79和LM-80标准 采用新的探测器，可以进行广动态范围的测量 测量部分的尺寸（积分球或积分半球）从250毫...

日本Otsuka大塚HM series 光谱光通测量系统-成都藤田科技提供 产品信息 特点 可处理高达2400mm的直管光学总光通量测量 测量系统符合IESNA的LM-79和LM-80标准 采用新的探测器，可以进行广动态范围的测量 测量部分的尺寸（积分球或积分半球）从250毫...

日本Otsuka大塚GP series分光配光测量系统-成都藤田科技提供 特点： 采用具有高亮度和色度精度的光谱方法（衍射光栅）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可测量， 对应CIE推荐的宽波长范围（355 nm至835 nm） 光学系统降低了...

日本Otsuka大塚FHS-1000高灵敏度光谱仪-成都藤田科技提供 特点： 采用具有高亮度和色度精度的光谱方法（衍射光栅）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可测量， 对应CIE推荐的宽波长范围（355 nm至835 nm） 光学系统降低了...