日本Otsuka大塚GP series分光配光测量系统-成都藤田科技提供
特点：采用具有高亮度和色度精度的光谱方法（衍射光栅）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可测量，对应CIE推荐的宽波长范围（355 nm至835 nm）光学系统降低了...

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更新时间：2025-02-22

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产品介绍

日本Otsuka大塚GP series分光配光测量系统-成都藤田科技提供

产品信息

特殊长度

● 支持长达 2400 毫米的 LED 照明灯具的光分布测量

● 还支持有机EL和大型显示器的光分布测量

● 可以自动控制2轴测角仪测量每个角度的光谱分布，并通过球带系数法获得总光谱通量、总光通量、色度、色温等。

● 采用新型检测器，可进行宽动态范围测量与 IESNA LM-75 兼容

● GP-2000 兼容 Type B 和 Type C

● 支持紫外和近红外区域的配光测量

● 可提供发光强度标准灯泡（JCSS）

评价项目

发光强度角分布（配光）

光谱辐射通量（光谱）

饱和度坐标 (u', v') [JIS Z8781-5]

饱和度坐标 (x, y) [JIS Z 8724]

显色指数（Ra、R1 至 R15）[JIS Z 8726]

模型	GP-500 ^*1	GP-1100 ^*1	GP-2000
光学系统^*2	2轴测角仪
	θφ坐标系	θφ坐标系	αβ坐标系/θφ坐标系
光路长度	500 毫米或更小	500-1500mm	1500 毫米或更多
对应样品	LED芯片	通用照明	一般照明，包括直管灯
		模块
探测器	多通道光谱仪
测量波长范围 ^*3	220nm-2500nm
评价项目	光强度的角度分布（光分布）光谱辐射通量（spectrum）色度坐标（u'，v'）[JIS Z8781-5] 色度坐标（x，y）[JIS Z 8724] ·主要波长（Dominant）和刺激纯度（Purity）[JIS Z8781-3] ·相关色温和Duv[JIS Z 8725] ·色彩性能评价数（Ra，R1至R15）[JIS Z 8726] ·IES（LM63-2002）和 JIS Z 8105-5 兼容）

* 1 可以进行光谱辐射的光分布测量 * 2 兼容IESNA LM-75 * 3 可以选择检测器的波长范围
* 4 IES 分析软件[大冢电子制造] 由另一家公司的光分布测量设备计算。IES 文件可以阅读和分析

配光测量方法中的坐标系类型（JIS C 8105-5）

日本Otsuka大塚GP series分光配光测量系统

日本Otsuka大塚GP series分光配光测量系统

核心特点：

超大基板全覆盖：专为下一代尺寸玻璃基板设计（支持超长/超宽规格），可高效测量LCD、TFT、有机EL等大型面板，兼容PI、ITO、SiN、介电层等复杂膜层结构。
纳米级精度与秒级速度：采用分光干涉+AI算法技术，单点测量时间＜1秒，膜厚精度±0.1nm，光学常数（n/k）解析＜0.5%，满足量产级质量控制需求。
全场景适配性：从研发实验室到自动化产线，支持在线（inline）集成，可定制XYZ多轴平台，实现基板全域厚度分布映射与缺陷快速筛查。
高速量产优化：每小时可检测超3000点，支持多探头并行测量，大幅提升玻璃基板（如G8/G10）产线效率，降低设备综合成本（CoO）。
超薄与超厚膜通吃：量程覆盖1nm至200μm，适用于OC（光学胶）、Resist（光刻胶）等软膜与硬质涂层的精准厚度控制。
低维护：非接触式测量设计，无探针损耗，长期使用稳定性达99.8%，搭配远程诊断功能，减少停机风险。