日本Otsuka大塚在线扫描膜厚测定仪新品入市-成都藤田科技提供 采用线扫描方式检测整面薄膜 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援 实现高精度测量实现高速测量 不受偏差影响 可对应宽幅样...

日本Otsuka大塚电子SM-100涂层测厚仪-成都藤田科技提供 “便携式手持型”重量仅为 1.1 公斤，易于携带 “高精度测量和简单测量” 无需校准曲线即可测量低至 0.1 μm 的测量 “兼容多层薄膜” 最多可测量 3 层多层薄膜 “无损、非接触式测量”测量，不损坏样品 “测量各种样品” 无论基材（玻璃或塑料）如何，都可以进行测量

日本Otsuka大塚测试系统ELSZneoSE-成都藤田科技提供 “便携式手持型”重量仅为 1.1 公斤，易于携带 “高精度测量和简单测量” 无需校准曲线即可测量低至 0.1 μm 的测量 “兼容多层薄膜” 最多可测量 3 层多层薄膜 “无损、非接触式测量”测量，不损坏样品 “测量各种样品” 无论基材（玻璃或塑料）如何，都可以进行测量

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日本Otsuka大塚电子SM-100智能涂层测厚仪-成都藤田科技提供 “便携式手持型”重量仅为 1.1 公斤，易于携带 “高精度测量和简单测量” 无需校准曲线即可测量低至 0.1 μm 的测量 “兼容多层薄膜” 最多可测量 3 层多层薄膜 “无损、非接触式测量”测量，不损坏样品 “测量各种样品” 无论基材（玻璃或塑料）如何，都可以进行测量

日本Otsuka大塚电子QE-2100量子测量系统-成都藤田科技提供 产品信息 特点 可处理高达2400mm的直管光学总光通量测量 测量系统符合IESNA的LM-79和LM-80标准 采用新的探测器，可以进行广动态范围的测量 测量部分的尺寸（积分球或积分半球）从250毫...