日本Otsuka大塚HM series 光谱光通测量系统-成都藤田科技提供 产品信息 特点 可处理高达2400mm的直管光学总光通量测量 测量系统符合IESNA的LM-79和LM-80标准 采用新的探测器，可以进行广动态范围的测量 测量部分的尺寸（积分球或积分半球）从250毫...

日本Otsuka大塚FHS-1000高灵敏度光谱仪-成都藤田科技提供 特点： 采用具有高亮度和色度精度的光谱方法（衍射光栅）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可测量， 对应CIE推荐的宽波长范围（355 nm至835 nm） 光学系统降低了...

日本Otsuka大塚FE-3700高精度膜厚测量系统-成都藤田科技提供 产品信息 特殊长度 可以高速、高精度地测量各种玻璃基板上各种薄膜的膜厚和光学常数。 除了支持包括下一代尺寸在内的大型玻璃基板外，它还支持 LCD、TFT 和有机 EL。 用法 LCD ITO...

日本Otsuka大塚GS-300oad Port膜厚测量系统-成都藤田科技提供 产品信息 特点 支持集成到 Φ300mm EFEM 单元的备用端口 实现嵌入在晶片中的布线图案的图案对齐 支持半导体工艺的高吞吐量要求 支持槽口对齐功能 小尺寸规格 高精度自动校准单元 自动...

日本Otsuka大塚OPTM series嵌入分光膜厚仪成都藤田科技提供 用显微微分光膜厚计OPTM series的高精度、微小光点，在线提供制作晶片图案后的微小区域测量等膜厚信息。...

日本Otsuka大塚RE-200高速相位差测量装置-成都藤田科技提供 产品信息 特 点 可测从0nm开始的低（残留）相位差 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.) （相当于世界快速的0.1秒以下来处理） 无驱动部，重复再现性高 设置的测量项目少，测量简单...