日本Otsuka大塚RE-200高速相位差测量装置-成都藤田科技提供
产品信息 特 点 可测从0nm开始的低（残留）相位差 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.) （相当于世界快速的0.1秒以下来处理） 无驱动部，重复再现性高 设置的测量项目少，测量简单...

产品信息

特 点

● 可测从0nm开始的低（残留）相位差
● 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.)
（相当于快速的0.1秒以下来处理）
● 无驱动部，重复再现性高
● 设置的测量项目少，测量简单
● 测量波长除了550nm以外，还有各种波长
● Rth测量、方位角测量
（需要option的自动旋转倾斜治具
● 通过与拉伸试验机组合，可同时评价膜的偏光特性和光弾性
(本系统属特注。）

测量项目

● 相位差（ρ[°], Re[nm]）
● 主轴方位角（θ[°]）
● 椭圆率（ε），方位角（γ）
● 三次元折射率（NxNyNz）

用　途

● 位相差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种功能性膜
● 树脂、玻璃等透明、非均质材料（玻璃有变形，歪曲等）

原　理

● 什么是RE-200
● RE-200是光子结晶素子（偏光素子）、CCD相机构成的偏光计测模块和透过的偏光光学系相组合，可高速且高精度的测量位相差（相位差）、及主轴方位角。CCD相机1次快门获取偏光强度模式，没有偏光子旋转的机构，系统整体上是属于小型构造，长时间使用也能维持稳定的性能。

执行拟合/傅立叶变换以计算椭圆度 ε 和方位角 γ 。

产品规格

Option
          ● Rth测量、方位角测量※治具本体（旋转：180° 倾斜：±50°）
          ● 动旋转倾斜治具

日本Otsuka大塚RE-200高速相位差测量装置-成都藤田科技提供