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日本大塚Otsuka
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日本Otsuka大塚PP-1000薄膜小角激光散射仪-成都藤田科技提供 PP-1000小角激光散射仪,利用小角激光散射法(Small Angle Laser Scattering,简称SALS),可以对高分子材料和薄膜进行原位检测,实时解析。与SAXS和SANS的装置相比,检测范围更广。利用偏光Hv散射测量可以进行光学各向异性的评价,解析结晶性薄膜的球晶半径,偏光Vv散射测量可以进行聚合物混合的相
日本Otsuka大塚FE-5000椭偏仪可在紫外波长-成都藤田科技提供 采用线扫描方式检测整面薄膜 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援 实现高精度测量实现高速测量 不受偏差影响 可对应宽幅样...
日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差测量装置-成都藤田科技提供 采用线扫描方式检测整面薄膜 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援 实现高精度测量实现高速测量 不受偏差影响 可对应宽幅样...
日本Otsuka大塚 薄膜离线型扫描膜厚仪-成都藤田科技提供$n采用线扫描方式检测整面薄膜 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援 实现高精度测量实现高速测量 不受偏差影响 可对应宽幅样...
日本Otsuka大塚在线扫描膜厚仪膜厚测定仪-成都藤田科技提供$n采用线扫描方式检测整面薄膜 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援 实现高精度测量实现高速测量 不受偏差影响 可对应宽幅样...
日本Otsuka大塚FFT膜厚解析嵌入式检测仪-成都藤田科技提供 产品信息 特 长 薄膜到厚膜的测量范围、UV~NIR光谱分析 高性能的低价光学薄膜量测仪 藉由反射率光谱分析膜厚 完整继承FE-3000机种90%的*功能 无复杂设定,操作简单,短時...
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