日本Otsuka大塚LC Fseries彩色滤光片测量-成都藤田科技提供 产品信息 特点 以透过光谱测量、色测量为代表，通过浓度测量、膜厚测量、反射光谱测量等，可对应彩色滤光片制造工程中的所有检查的装置 可用于彩色滤光片的光学特性或玻璃基板...

日本Otsuka大塚SF-3分光干涉式晶圆膜厚仪-成都藤田科技提供 即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板(强酸环境中)于减薄制程中的厚度变化

日本Otsuka大塚 MCPD-6800多通道波长光谱仪-成都藤田科技提供 根据用途的各种检测器的阵容 以高档次的机型MCPD-9800为首，拥有两个系列，共达9个波长范围的检测器型号。 可配合客户的需求与测量用途，选择适合的检测器。 测量项目与所对应的检测器

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日本Otsuka大塚OPTM series显微分光膜厚仪-成都藤田科技提供 MINUK可评价nｍ级的透明的异物・缺陷，一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息，可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦，可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。

日本Otsuka大塚ZETA分子量测试系统ELSZneo-成都藤田科技提供 MINUK可评价nｍ级的透明的异物・缺陷，一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息，可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦，可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。