日本Otsuka大塚电子QE-2100量子测量系统-成都藤田科技提供
产品信息 特点 可处理高达2400mm的直管光学总光通量测量 测量系统符合IESNA的LM-79和LM-80标准 采用新的探测器，可以进行广动态范围的测量 测量部分的尺寸（积分球或积分半球）从250毫...

日本Otsuka大塚电子QE-2100量子测量系统-成都藤田科技提供

产品信息

• 量子效率（量子产率）可以瞬时测量

• 可以去除重新激发的荧光发射

• 集成半球单元实现明亮的光学系统

• 使用低杂散光多通道分光光度探测器大大减少了紫外区域的杂散光。

• 温度控制功能 （50~300°C） 可实现与温度相关的量子效率（量子产率）测量

• 兼容紫外到近红外宽带 （300~1600nm） 规格

• 使用专用软件轻松作

• 易于安装和拆卸样品测量池

• 节省空间且设计紧凑

• 通过使用光谱仪型激发光源，可以选择任意波长。

• 可以在软件中激发波长和步长值的自动测量

• 与粉末、溶液、固体（薄膜）和薄膜样品兼容

• 广泛的分析功能

• 量子效率（量子产率）测量

• 激发波长依赖性测量

• 发射光谱测量

• PL 激发光谱测量

• EEM（激发发射矩阵）测量

• 测量 LED 和有机 EL 荧光粉的量子效率（量子产率）

• 测量薄膜状样品
  的透射荧光和反射荧光的量子效率（量子产率），例如用于远程荧光粉的荧光粉样品

• 量子点、荧光探针、生物场、包合物等的荧光测量

• 染料敏化太阳能电池量子效率（量子产率）的测量

• 复杂化合物的测定

QE-2100 配备了一个积分半球。 与积分球（球形）相比，积分半球具有以下特点

• 由于非发光部件（支架等）可以暴露在外部，因此可以保持较小的自吸收，从而实现理想的光学系统

• 镜子在同一点将照度加倍，从而实现高灵敏度测量。

• 样品测量池易于安装和拆卸，损坏积分球内部的风险很小。

在包含重激发荧光发射的状态下，观察的不是材料本身的物理性质，而是器件的特性，无法确定真正的物理性质值。 QE-2100 使用重激发荧光校正，利用积分半球的优势进行简单准确的测量。

常规探测器（多色仪）在紫外区域检测到高水平杂散光，因此不适合测量量子效率（量子产率）。 大冢电子通过开发一种去除杂散光的技术解决了这个问题。 QE-2100 中安装的多通道分光光度探测器与我们的传统产品相比，杂散光量约为 1/5，即使在紫外线区域也能实现高精度测量。

日本Otsuka大塚电子QE-2100量子测量系统-成都藤田科技提供