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产品中心日本大塚Otsuka日本Otsuka大塚nanoSAQLA纳米粒子径测试
产品型号：
更新时间：2025-02-21
厂商性质：代理商
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日本Otsuka大塚nanoSAQLA纳米粒子径测试-成都藤田科技提供
核心对比与OPTM优势：
技术差异化：
OPTM系列：基于分光干涉法，结合显微光学系统，实现反射率分析，支持超薄膜（1nm）与复杂多层结构，技术解决透明基板干扰。
Smart膜厚仪：侧重便携性与快速筛查，适用于常规单层膜厚测量，但精度与功能扩展性不及OPTM系列。
应用场景：
OPTM适用于研发（R&D）与高精度QC，如半导体晶圆、光学滤光片；Smart膜厚仪更适合产线快速抽检。
性价比优势：OPTM以中型设备成本提供媲美椭偏仪的精度，且操作门槛更低，软件内置NIST校准追溯，确保数据可靠性。
特长
● 1台便可实再5个样品的连续测量
实现了在没有自动取样器的情况下难以连续测量的多个样品
可以改变每个样品的条件进行测量
● 可以对应从稀薄到浓厚的样品
● 标准测量时间1分的高度测量
自动调整从浓厚系到稀薄系样品的测量位置，实现约1分钟的高速测量
● 配备简单测量功能(点击一键即可开始测量)
没有任何复杂的操作，简单易懂的软件
● 因为每个样品槽都是独立的，没有接触污染的风险。
● 搭载温度梯度功能
测量范围（理论值）
● 粒径0.6nm～10μm
● 浓度范围 0.00001～40％
● 温度范围0～90℃*
规格
| 型号 | 多检体纳米粒径测量系统 |
| 測量原理 | 动态光散射法（光子相关法） |
| 光源 | 高功率半导体激光（660nm、70mW） *1 |
| 检出器 | 高感度APD |
| 连续测量 | 最多5个样品 |
| 测量范围 | 0.6nm ～ 10μm |
| 浓度范围 | 0.00001 ～ 40% *2 |
| 温度范围 | 0 ～ 90℃ （具备温度梯度功能） *3 |
| 样品容量 | 四面透光比色皿：1.2mL～、微量比色皿：20μL～ |
| 尺寸 | W240 X D480 X H375 mm |
| 电压 | 220V 50/60Hz、250VA |
| 重量 | 约18 kg |
| 软件 | 平均粒径解析（累积法解析） |
| 粒径分布解析 | |
| （Marquardt法/Contin法/NNLS/Unimodal法） | |
| 粒度分布重叠 | |
| 逆相关数 残差Plot | |
| 粒径监测 | |
| 粒径表示范围 （0.1 ～ 106 nm） | |
| 分子量计算机能 | |
| 21 CFR Part11对应*4 | |
| 选配 | 微量样品池（20μL开始対应）、荧光滤光片 |
*1 本设备划分在激光安全基准（JIS C 6802）的等级内。
*2 Latex120nm：0.00001 ～ 10％、牛黄胆酸：～40%
*3 标准glass cell的批量测量的情况。
一次性cell或连续测量时， 15 ～ 40℃ （不对应温度梯度）
*4 选配功能
测量示例
不同溶剂的5个样品连续测量
温度梯度机能使用的测定
可对应宽泛粒径的范围的测量
日本Otsuka大塚nanoSAQLA纳米粒子径测试-成都藤田科技提供
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