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日本Otsuka大塚RETS series液晶层间隙量测
产品简介:

日本Otsuka大塚RETS series液晶层间隙量测-成都藤田科技提供
产品信息 特 点 采用了偏光光学系和多通道分光检出器 有可对应各种尺寸的装置,从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板 安全对策和粒子对策,可对应液晶line内的检查设备 测量项目...

产品型号:

更新时间:2025-02-21

厂商性质:代理商

访问量:61

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产品介绍

日本Otsuka大塚RETS series液晶层间隙量测-成都藤田科技提供

日本Otsuka大塚RETS series液晶层间隙量测



● 三次元折射率/Rth/β*
● 分光光谱/色度*

*选配功能追加


   测量对象

● 液晶cell
 - 透过、半透过型液晶cell(TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感应电)
 - 反射型液晶cell(TFT、TN、IPS、VA)
● 光学材料
 - 其他(相位差、椭圆、偏光膜、液晶材料)


仕 样

型号

RETS series

样品尺寸

20mm x 20mm ~* 

cell gap测量范围

0.1μm ~数10μm

cell gap重复性

±0.005μm

检出器

多通道分光光度计

测量波长范围

400nm ~ 800nm

光学系
透过用偏光子unit

偏光光学系
消光比 10-5内置Gran-tomson prism(方解石)
自动旋转(角度精度0.1°)、自动装卸机构

测量口径

φ2, φ5, φ10 (mm)

光轴倾斜机构

-20 ~ 45°、-45 ~ 45°等

*也可用于大型玻璃基板(3000mmx3000mm以上)

    测量案例

日本Otsuka大塚RETS series液晶层间隙量测

液晶面内分布图

日本Otsuka大塚RETS series液晶层间隙量测

核心特点


  1. 微区测量能力:最小光斑直径3μm,搭配自动XY平台(200×200mm),实现晶圆、FPD(如OLED、ITO膜)等微小区域的精准厚度分布映射。


  2. 跨行业适用性:专为半导体(SiO₂/SiN膜)、显示面板(彩色光阻)、DLC涂层等行业设计,支持粗糙表面、倾斜结构及复杂光学异向性样品的分析。


  3. 安全与扩展性:区域传感器触发防误触机制,独立测量头支持定制化嵌入,满足在线检测(inline)与实验室研发需求。

日本Otsuka大塚RETS series液晶层间隙量测-成都藤田科技提供






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