日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差测量装置-成都藤田科技提供
采用线扫描方式检测整面薄膜硬件软件均为创新设计作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援实现高精度测量实现高速测量不受偏差影响可对应宽幅样...

产品型号：

更新时间：2025-02-22

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产品介绍

日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差测量装置-成都藤田科技提供

日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差测量装置

产品信息

特　点

使用光谱仪实现高精度测量

精度高的原因

● 使用高性能多通道光谱仪（型号：MCPD）对光谱进行解析
● 可获取较多的透过率信息实现高精度测量
(获得的透射率信息约为 500 波长，是其他公司产品的约50 倍）。

日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差测量装置

超高相位差测量-超双折射薄膜可高速、高精度测量

日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差测量装置

轴角度补正功能-即使样品放置有偏离，也可轻松、再现性良好的进行测量

日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差测量装置

便捷的软件-极大缩短测量时间与处理时间，操作性大幅UP

日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差测量装置

产品规格

测量项目（薄膜、光学材料）	相位差（波长分散）、慢轴、RTH^1、3次元折射率1等
测量项目（偏光片）	吸收轴、偏光度、消光比、各种色度、各种透过率等
测量项目（液晶cell）	cell gap、预倾角^*1 、扭曲角、配向角等
位相差测量范围	0～60,000nm
相位差重复性	3σ≦0.08nm（水晶波长板约600nm）
cell gap 测量范围	0～600μm（Δn=0.1时）
cell gap 重复性	3σ≦0.005μm（cell gap 约3μｍ、Δｎ＝0.1时）
轴检测重复性	3σ≦0.08°（水晶波长板约600nm）
测量波长范围	400～800nm（其他可选）
检测器	多通道光谱仪
测量径	φ2㎜(标准规格)
光源	100W　halogen lamp
数据处理部	个人计算机、显示器
样品台尺寸:标准	100㎜×100㎜（固定样品台）
option	·超高相位差测量 ·多层测量 ·轴角度补正功能 · 自动XY样品台·自动倾斜旋转样品台