日本Otsuka大塚RETS series液晶层间隙量测-成都藤田科技提供 产品信息 特 点 采用了偏光光学系和多通道分光检出器 有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板 安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备 测量项目...

日本Otsuka大塚LC Fseries彩色光刻胶测量-成都藤田科技提供 产品信息 特点 以透过光谱测量、色测量为代表，通过浓度测量、膜厚测量、反射光谱测量等，可对应彩色滤光片制造工程中的所有检查的装置 可用于彩色滤光片的光学特性或玻璃基板...

日本Otsuka大塚LC Fseries彩色滤光片测量-成都藤田科技提供 产品信息 特点 以透过光谱测量、色测量为代表，通过浓度测量、膜厚测量、反射光谱测量等，可对应彩色滤光片制造工程中的所有检查的装置 可用于彩色滤光片的光学特性或玻璃基板...

日本Otsuka大塚SF-3分光干涉式晶圆膜厚仪-成都藤田科技提供 即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板(强酸环境中)于减薄制程中的厚度变化

日本Otsuka大塚 MCPD-6800多通道波长光谱仪-成都藤田科技提供 根据用途的各种检测器的阵容 以高档次的机型MCPD-9800为首，拥有两个系列，共达9个波长范围的检测器型号。 可配合客户的需求与测量用途，选择适合的检测器。 测量项目与所对应的检测器

日本Otsuka大塚 MCPD-9800多通道波长光谱仪-成都藤田科技提供 根据用途的各种检测器的阵容 以高档次的机型MCPD-9800为首，拥有两个系列，共达9个波长范围的检测器型号。 可配合客户的需求与测量用途，选择适合的检测器。 测量项目与所对应的检测器