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日本Otsuka大塚 MCPD-6800多通道波长光谱仪-成都藤田科技提供 根据用途的各种检测器的阵容 以高档次的机型MCPD-9800为首,拥有两个系列,共达9个波长范围的检测器型号。 可配合客户的需求与测量用途,选择适合的检测器。 测量项目与所对应的检测器
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日本Otsuka大塚OPTM series显微分光膜厚仪-成都藤田科技提供 MINUK可评价nm级的透明的异物・缺陷,一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息,可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦,可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。
日本Otsuka大塚ZETA分子量测试系统ELSZneo-成都藤田科技提供 MINUK可评价nm级的透明的异物・缺陷,一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息,可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦,可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。
日本Otsuka大塚ZETA粒径测试系统ELSZneo-成都藤田科技提供 MINUK可评价nm级的透明的异物・缺陷,一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息,可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦,可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。
日本Otsuka大塚ZETA电位测试系统ELSZneo-成都藤田科技提供 MINUK可评价nm级的透明的异物・缺陷,一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息,可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦,可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。
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